Оптоэлектронный датчик EE‑SX673 от компании OMRON (Япония) — компактное щелевое устройство для точного детектирования объектов в условиях ограниченного пространства. Благодаря U‑образному дизайну и вертикальной ориентации, датчик легко интегрируется в платы и автоматизированные системы.
Основные характеристики:
- Максимальная дальность действия: 5 мм.
- Напряжение питания: от 5 до 24 В DC.
- Максимальный рабочий ток: 100 мА.
- Конфигурация выхода: NPN.
- Класс защиты: IP50.
- Рабочая температура: от −25C до 55C.
- Время отклика: 1 мс.
Конструктивные особенности:
- U‑образный корпус — обеспечивает компактность и удобство монтажа на плату;
- узкая вертикальная конструкция — экономит пространство в устройствах с плотной компоновкой;
- щелевой принцип действия — объект детектируется при пересечении оптического луча между излучателем и приёмником;
- разъёмные выводы — упрощают подключение к внешним цепям.
Датчик EE‑SX673 используется в: промышленных автоматизированных системах; оборудовании для точного позиционирования; счётчиках и детекторах объектов малого размера; принтерах, сканерах и оргтехнике; системах контроля и безопасности; устройствах с ограниченным пространством для монтажа сенсоров.
Преимущества:
- Высокая точность — детектирование объектов на расстоянии до 5 мм с минимальным временем отклика (1 мс).
- Гибкость настройки — поддержка режимов DARK‑ON и LIGHT‑ON для адаптации к разным задачам.
- Широкий диапазон питания — работа от 5 до 24 В DC, что упрощает интеграцию в различные системы.
- Надёжность — корпус класса IP50 защищает от пыли и механических воздействий.
- Компактность — малый вес (2,13 г) и U‑образная форма для монтажа на плату.
- Быстродействие — частота переключения 1 кГц для динамичных процессов.
Оптоэлектронный датчик EE‑SX673 OMRON — оптимальное решение для задач, требующих точного и быстрого детектирования объектов в ограниченном пространстве. Сочетание компактного U‑образного корпуса, гибких режимов работы и высокой надёжности делает его востребованным в промышленной автоматизации, оргтехнике и системах контроля.
